Bibliographic Detail  #69177    

Material Type Electronic Resource
TitleRF and Microwave Modeling and Measurement Techniques for Field Effect Transistors [electronic resource] / Gao.
AuthorGao, Jianjun
SubjectField-effect transistors.
 Measurement.
 Microwave transistors.
 measurement systems.
 microwave field effect transistors.
ISBN9781613530900
Published/CreatedRaleigh, NC : SciTech Publishing Inc., 2010.
Linkshttp://dx.doi.org/10.1049/SBEW027E
Add Comment Dialog
Your Name
Comment

Add Review Dialog
Your Name
Content
Add to list
Title
Create in
Use same folder
Create a Folder
Folder Name
Add to list result
Hold Dialog
Branch Receive
Expected Date Received
 
Request Inprocess Items
เงื่อนไข
  • 1. ส่งคำขอเวลา 8.30-11.00น รับหนังสือเวลา 16.00น.
  • 2. ส่งคำขอหลังเวลา 11.00น. รับหนังสือในวันทำการถัดไป
  • 3. ส่งคำขอ วันศุกร์ช่วงบ่าย หรือ วันเสาร์-อาทิตย์ รับหนังสือวันจันทร์ 16.00น.
  • 4. ติดต่อรับหนังสือด่วนได้ที่ เคาน์เตอร์บริการยืม-คืน ชั้น 3 *ภายใน 3 วัน*
ติดต่อสอบถามข้อมูลเพิ่มเติม โทร. 2352
Items Location Map
Result Dialog
Undefined result.
Login Dialog
Username:
Password:
Forgot your password ?